Rasterkraftmikroskop (AG Ehresmann)

Geräteparameter

SIS Bruker ULTRAObjective mit Zeiss Axiotech

Parameter

Wert

Scanmodi

AFM, MFM, Phase

min. Scanfeld

500 x 500 nm

max. Scanfeld

230 x 230 μm

Piezo Z-Hub

8 μm

Lichtobjektive

100fach, 200fach, 500fach

Ansprechpartner

Zusatzinfo