Publikationen 2016

Tagungsbeiträge

  • S. Laubach, G. Ehret, J. Riebeling, P. Lehmann
    Error analysis of an interferometric line-based form measuring system
    DGaO Proceedings 2016, ISSN: 1614-8436
     
  • W. Xie, S. Hagemeier, C. Woidt, H. Hillmer, P. Lehmann
    Influences of edges and steep slopes in 3D interference and confocal microscopy
    SPIE, Proceedings 9890, Optical Micro- and Nanometrology, (2016)
     
  • W. Xie, S. Hagemeier, P. Lehmann, S. Tereschenko
    Influences of edges and steep slopes in 3D interference and confocal microscopy
    Invited Talk, The International Symposium on Optoelectronic Technology and Application, Bejing 2016
     
  • M. Schulz, P. Lehmann
    Fasergekoppelter High-Speed-Sensor zum Messen optischer Funktionsflächen
    18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, ISBN 978-3-9816876-0-6, S. 411-417
     
  • P. Lehmann, S. Tereschenko
    Maschinenintegration von interferometrischen Präzisionssensoren
    VDI-Berichte 2285, 5. VDI-Fachtagung „Optische Messung von Funktionsflächen 2016“, S. 135-146
     
  • P. Lehmann, S. Tereschenko, M. Schulz, M. Schake, J. Riebeling
    Robust interferometric sensors based on sinusoidal phase modulation
    European Optical Society Annual Meeting (EOSAM) 2016, Berlin 26-30 September 2016
     
  • S. Laubach, G. Ehret, P. Lehmann
    Interferometrischer Liniensensor zur Formmessung von optischen Oberflächen
    XXX. Messtechnisches Symposium des AHMT (2016) S. 125-132
     

Fachzeitschriften

  • S. Tereschenko, P. Lehmann, L. Zellmer, A. Brückner-Foit
    Passive vibration compensation in scanning white-light interferometry
    Applied Optics 55 (2016) 6172-6182
     
  • M. Schake und P. Lehmann
    Anwendungsorientiertes Verfahren zur Eindeutigkeitsbereichserweiterung eines fasergekoppelten Zweiwellenlängeninterferometers
    tm-Technisches Messen, 83 (2016) 192-200.
     
  • P. Lehmann, S. Tereschenko, W. Xie
    Fundamental aspects of resolution and precision in vertical scanning white-light interferometry
    Surf. Topogr.: Metrol. Prop. 4, 0214004 (2016) 1-10
     
  • W. Xie, P. Lehmann, J. Niehues, S. Tereschenko
    Signal modeling in low coherence interference microscopy on example of rectangular grating
    Optics Express 24 (2016) 14283-14300
     
  • D. T. Nguyen, M. Ababtain, I. Memon, A. Ullah, A. Istock, C. Woidt, W. Xie, P. Lehmann, H. Hillmer
    3D nanoimprint for NIR Fabry-Pérot filter arrays: fabrication, characterization and comparison of different cavity designs
    Applied Nanoscience, pp 1-9, February 2016
     
  • S. Laubach, G. Ehret, J. Riebeling, P. Lehmann
    A new form measurement system based on subaperture stitching with a line-scanning interferometer
    Advanced Optical Technologies. ISSN (Online) 2192-8584, ISSN (Print) 2192-8576, October 2016