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W. Xie, S. Hagemeier, C. Woidt, H. Hillmer, P. Lehmann Influences of edges and steep slopes in 3D interference and confocal microscopy SPIE, Proceedings 9890, Optical Micro- and Nanometrology, (2016)
W. Xie, S. Hagemeier, P. Lehmann, S. Tereschenko Influences of edges and steep slopes in 3D interference and confocal microscopy Invited Talk, The International Symposium on Optoelectronic Technology and Application, Bejing 2016
M. Schulz, P. Lehmann Fasergekoppelter High-Speed-Sensor zum Messen optischer Funktionsflächen 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, ISBN 978-3-9816876-0-6, S. 411-417
P. Lehmann, S. Tereschenko Maschinenintegration von interferometrischen Präzisionssensoren VDI-Berichte 2285, 5. VDI-Fachtagung „Optische Messung von Funktionsflächen 2016“, S. 135-146
P. Lehmann, S. Tereschenko, M. Schulz, M. Schake, J. Riebeling Robust interferometric sensors based on sinusoidal phase modulation European Optical Society Annual Meeting (EOSAM) 2016, Berlin 26-30 September 2016
S. Laubach, G. Ehret, P. Lehmann Interferometrischer Liniensensor zur Formmessung von optischen Oberflächen XXX. Messtechnisches Symposium des AHMT (2016) S. 125-132
Fachzeitschriften
S. Tereschenko, P. Lehmann, L. Zellmer, A. Brückner-Foit Passive vibration compensation in scanning white-light interferometry Applied Optics 55 (2016) 6172-6182
M. Schake und P. Lehmann Anwendungsorientiertes Verfahren zur Eindeutigkeitsbereichserweiterung eines fasergekoppelten Zweiwellenlängeninterferometers tm-Technisches Messen, 83 (2016) 192-200.
W. Xie, P. Lehmann, J. Niehues, S. Tereschenko Signal modeling in low coherence interference microscopy on example of rectangular grating Optics Express 24 (2016) 14283-14300
D. T. Nguyen, M. Ababtain, I. Memon, A. Ullah, A. Istock, C. Woidt, W. Xie, P. Lehmann, H. Hillmer 3D nanoimprint for NIR Fabry-Pérot filter arrays: fabrication, characterization and comparison of different cavity designs Applied Nanoscience, pp 1-9, February 2016
S. Laubach, G. Ehret, J. Riebeling, P. Lehmann A new form measurement system based on subaperture stitching with a line-scanning interferometer Advanced Optical Technologies. ISSN (Online) 2192-8584, ISSN (Print) 2192-8576, October 2016
