Das Leica EM TXP ist ein Zielpräparationsinstrument für die mechanische Bearbeitung nicht eingebetteter Proben im Mikrometerbereich. Ein integriertes Stereomikroskop in Kombination mit einem Probenschwenkarm erlaubt es, die Proben während der Bearbeitung in Winkeln zwischen 0° und 60° sowie 90° zu betrachten. Proben können durch Fräsen, Sägen, Schleifen, Bohren und Polieren bearbeitet werden, dabei können alle Prozessschritte zur Probenpräparation ohne zwischenzeitliches Entnehmen der Probe aus dem Instrument erfolgen.

Das Instrument weist eine integrierte automatische Prozesskontrolle für regelmäßig anfallende Probenpräparationen auf. Ihre Funktionen bestehen aus automatischer Ost-West-Führung, Zeit- oder Abstandscountdown, sowie kraftgeregelter Vorschubsteuerung.