Mikroskopie und optische Untersuchungen

Digitales LichtmikroskopVHX 7000 Keyence, Hersteller: Keyence GmbH

Spezifikationen:

• Vollautomatisches Stitching, d.h. Zusammensetzen von mehreren Bildern in 2D und 3D bis zu 50.000 x 50.000 Pixel in Echtzeit, zusätzlich konventionelle Arbeitstechniken wie Hellfeld, Dunkelfeld und Differential-Interferenz-Kontrast integriert

• Motorisierter Messtisch in X-, Y- und Z-Richtung

• Objektive: 20x bis 100x Vergrößerung, 100x bis 500x Vergrößerung, 500x bis 2500x Vergrößerung, 2500x bis 6000x Vergrößerung

• 3D-Vermessung mit Messpunkterkennung

• Darstellung einer Tiefenschärfe von mindestens 30mm bei 20x Vergrößerung

• stufenlos schwenkbares Stativ bis 90°, dabei Beibehaltung der Fokussierung auf den Mittelpunkt des Sichtfeldes ohne manuelle Neufokussierung und -positionierung

• optischer Schatteneffekt-Modus zur Erkennung und Analyse kleiner Merkmale <10 Mikrometer

• HDR-Modus

• Rauheitsmessung in Anlehnung an ISO 4287:1997 und ISO 13565:1996

• Korngrößenbestimmung nach ASTM und ISO 643

• Restschmutzanalyse nach ISO 16232 und VDA 19

Messgerät: IM-7020 (Fa. Keyence)

Verwendung:

• Optische Vermessung von Bauteilen

• Automatisierte Vermessung

• Erkennung der Geometrie und Lage des Bauteils

Spezifikationen:

• Messkopf mit Durchlicht/programmierbarem Auflicht und Lichttaster

• Bildgestützter Messbereich: 200 x 200 mm (4 x R50)

• Anzeigeauflösung: 0,1 µm

• Lichtaster Messbereich: 90 x 90 mm

• Max. Messtiefe: 30 mm

• Durchmesser Lichttatster: 3 mm

• XY-Verfahrweg: 100 x 100 mm (elektrisch)

• Z-Verfahrweg: 75 mm (elektrisch)

• Max. Gewichtsbelastung: 5 kg

Messgerät: Ultra Scan Pro (Fa. Hunterlab)

Verwendung:

• Qualitätssicherung

• Prozessüberwachung

• Produktkontrolle (Plagiate)

 Spezifikationen:

• Erweiterter Wellenlängenbereich von 350 nm bis 1050 nm

• Echte optische Auflösung von 5 nm

• Diffus/ 8° Geometrie

• Erfüllt die Richtlinien der CIE, ASTM und USP

• Kalibriertes und kontrolliertes D65 im VIS und UV Bereich

• Messflächen mit 4 mm, 9 mm und 19 mm

• Hohe Genauigkeit für Messungen an Granulaten

• Große, an drei Seiten offene Transmissionsöffnung mit 100mm Tiefe

• Haze Messungen in Transmission

Zeiss GEMINI

Spezifikationen:

• Auflösung 0,8 nm bei 15 kV

• 80 mm Schleuse

• EDX Doppeldetektorsytem

• Bruker X-Flash mit je 60 mm²

• Bruker EBSD e-Flash Detektor

• In-lens-Detektor

• EsB-Detektor

• AsB-Detektor

• SE-Detektor

• BSD-Detektor

• STEM-Detektor

• Charge Compensation via Gas Injektion

CAMSCAN MV2300

Spezifikationen:

• Kathodensystem: Wolfram-Haarnadelkathode

• Auflösung <3,5nm bei 30KV im SE-Modus

• Vergrößerung 20-bis 400.000-fach (Gold auf Kohle Standard)

• Rückstreuelektronendetektor für Materialkontrastabbildung

• Mikrobereichsanalysen EDX und EBSD

• Mikrozugvorrichtung

Mobiles Digitalmikroskop VHX600 Keyence

Spezifikationen:

• 4 Objektive mit Vergrößerungen von 5-5000-fach (bezogen auf 15“ Monitor)

• 3D Bildzusammensetzung

• HDR (High Dynamic Range)

• Arbeitsweisen: Auflicht, Durchlicht, Hellfeld, Dunkelfeld, Auflichtpolarisation

• Stative mit Kipp und

• Rotationsfunktion

• Hohe Tiefenschärfe

• Hoher Arbeitsabstand

• Diverse Filter- und Beleuchtungsvariationen

Zeiss-Axioplan

Spezifikationen:

• Auf- u. Durchlichtmikroskop

• Hellfeld- Dunkelfeld

• Polarisation im Auf- u. Durchlicht

• 5-fach Objektivrevolver

• Vergrößerung 50-1000-fach

• Differentialinterferenzkontrast

• Bildanalyse „Zeiss-Axio-Vision“

• Verschiedene Farbfilter für Auf- u. Durchlichtuntersuchungen

3D Laserscanningmikroskop VK300 Keyence

Spezifikation:

• Berührungslose 2D und 3D-Messungen einer Oberfläche mit vollautomatischem Stitching, d.h. Zusammensetzen von mehreren Bildern in 2D und 3D

• Quantifikation der Oberflächenstruktur, vergleichende Analysen unterschiedlicher Objekte, Volumen- und Rauheitsanalysen

• Vergrößerung 42x bis 28.800x (Objektive: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x, 150x)

• Maximale Höhe der zu untersuchenden Proben mindestens 60mm und Erweiterung auf mindestens 100mm durch geeignetes Zubehör (Messkopf höher positionieren)

• Große Arbeitsabstandsobjektive: min. 4mm, 8mm, 15mm WD

• Messgenauigkeit: Linearmaßstab mit Auflösung von 0,1 nm

• Z-Positionserkennung anhand der Intensität des reflektierten Lichts (16-Bit-Abtastung mit hochempfindlichem Photomultiplier für 3D Daten)

• Erstellung von 3 verschiedenen Bilddaten: Farbe, Laserintensität und Höhenunterschied.

• Fokuspunkt Bestimmung mit einer 5,6-Megapixel-CMOS Farbkamera und automatischer Fokuspunkterkennung

• Revolver zur gleichzeitigen Aufnahme von mindestens 6 Objektiven, automatischer und elektrischer Wechsel der 6 Objektive, manueller Umbau auf weitere Objektive durch den Nutzer muss gewährleistet sein.

• Verfahrweg motorisierter XY-Objekttisch min. 95mm x 95mm

• Messprinzip 1: Konfokales Laserscanning nach DIN EN ISO 25178-607

• Anzeigeauflösung in Z 0,1nm;  Anzeigeauflösung in XY 0,1nm; Wiederholgenauigkeit (σ) in Z 50x :12nm; Wiederholgenauigkeit  (3σ) in XY 50x :40nm; Laserwellenlänge ~405nm; 

• Messprinzip 2: Fokusvariation nach DIN EN ISO 25178-606 ; Anzeigeauflösung in Z 0,1nm;  Anzeigeauflösung in XY 0,1nm; Wiederholgenauigkeit (σ) in Z 50x :20nm; Wiederholgenauigkeit  (3σ) in XY 50x :50nm

• Messprinzip 3: Weißlichtinterferometrie; Anzeigeauflösung in Z 0,01nm; Anzeigeauflösung in XY 0,1nm;

• Nutzbar auch als Lichtmikroskop mit Ring- Koaxial- und Mix aus beiden Beleuchtungsarten